1.

国際会議録

国際会議録
Ma,W. ; Mao,E. ; Han,Y. ; He,P.
出版情報: Electronic imaging and multimedia systems II : 18-19 September, 1998, Beijing, China.  pp.300-305,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3561
2.

国際会議録

国際会議録
Liu,M. ; Zhen,W. ; Liang,Y. ; Yu,M. ; He,P. ; Cheng,C.
出版情報: Automated optical inspection for industry : 6-7 November 1996, Beijing, China.  pp.603-610,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2899
3.

国際会議録

国際会議録
Wagner,T. ; Johs,B.D. ; Herzinger,C.M. ; He,P. ; Pittal,S. ; Woollam,J.A.
出版情報: Polarimetry and ellipsometry : 20-23 May, 1996, Kazimierz Dolny, Poland.  pp.301-307,  1997.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3094