1.

国際会議録
国際会議録
1. In Situ Real-Time Ellipsometry Study of Dynamic Processes of YBa2Cu3O7-x Thin Films
Gao, Y. ; Mueller, A. H. ; Irene, E. A. ; Auciello, O. ; Krauss, A. R. ; Schultz, J. A.
出版情報: In situ process diagnostics and modelling : symposium held April 6-7, 1999, San Francisco, California, U.S.A..  pp.77-,  1999.  Warrendale, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 569
2.

国際会議録
国際会議録
2. Combined Spectroscopic Ellipsometry and Ion Beam Surface Analysis for In Situ, Real-Time Characterization of Complex Oxide Film Growth
Mueller, A. H. ; Gao, Y. ; Irene, E. A. ; Auciello, O. ; Krauss, A. R. ; Schultz, J. A.
出版情報: In situ process diagnostics and modelling : symposium held April 6-7, 1999, San Francisco, California, U.S.A..  pp.15-,  1999.  Warrendale, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 569