1.

国際会議録
国際会議録
1. ION CHANNELING AND SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY EXAMINATIONS OF THIN-FILM SiO2/EPI-Si(001) STRUCTURES
Fiory, A.T. ; Roy, P. K. ; Jellison, G.E.
出版情報: Chemical surface preparation, passivation, and cleaning for semiconductor growth and processing : symposium held April 27-29, 1992, San Francisco, California, U.S.A..  pp.131-136,  1992.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 259
2.

国際会議録
国際会議録
2. Electrical Measurements of Annealed Boron Implants for Shallow Junctions
Fiory, A.T. ; Baurdelle, K.K. ; Lefrancois, M.E. ; Camm, D.M ; Agarwal, A.
出版情報: Advances in rapid thermal processing : proceedings of the symposium.  pp.133-140,  1999.  Pennington, N. J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 99-10
3.

国際会議録
国際会議録
3. STRUCTURAL AND PHYSICAL PROPERTIES IN THE Bi-Sr-Cu-O SYTSEM
Sunshine, S.A. ; Schneemeyer, L.F. ; Fleming, R.M. ; Fiory, A.T. ; Martin, S. ; Glarum, S.H.
出版情報: High-temperature superconductors : fundamental properties and novel materials processing : symposium held November 27-December 2, 1989, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.107-110,  1990.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 169