1.

国際会議録
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1. Impact of the back-gate bias on the low-frequency noise of partially depleted silicon-on-insulator MOSFETs
Lukyanchikova, N. R. ; Garbar, N. ; Smolanka, A. ; Simoen, E. ; Mercha, A. ; Claeys, C.
出版情報: Noise in devices and circuits II : 26-28 May 2004, Maspalomas, Gran Canaria, Spain.  pp.208-214,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5470
2.

国際会議録
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2. 1/f noise in deep-submicron CMOS technology for RF and analog applications (Invited Paper)
Mercha, A. ; Simoen, E. ; Decoutere, S. ; Claeys, C.
出版情報: Noise in devices and circuits II : 26-28 May 2004, Maspalomas, Gran Canaria, Spain.  pp.193-207,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5470
3.

国際会議録
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3. THE BEHAVIOUR OF OXYGEN IN OXYGENATED N-TYPE HIGH-RESISTIVITY FLOAT-ZONE SILICON
Simoen, E. ; Claeys, C. ; Job, R. ; Ulyashin, A.G. ; Fahrner, W.R. ; Tonelli, G. ; Degryse, O. ; Clauws, P.
出版情報: Semiconductor silicon 2002 : proceedings of the ninth International Symposium on Silicon Materials Science and Technology.  pp.912-924,  2002.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2002-2
4.

国際会議録
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4. THE BEHAVIOUR OF OXYGEN IN OXYGENATED N-TYPE HIGH-RESISTIVITY FLOAT-ZONE SILICON
Simoen, E. ; Claeys, C. ; Job, R. ; Ulyashin, A.G. ; Fahrner, W.R. ; Tonelli, G. ; Degryse, O. ; Clauws, P.
出版情報: Semiconductor silicon 2002 : proceedings of the ninth International Symposium on Silicon Materials Science and Technology.  pp.912-926,  2002.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2002-2
5.

国際会議録
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5. Lifetime and Leakage Current Studies in Shallow P-N Junctions
Poyai, A. ; Simoen, E. ; Claeys, C. ; Rooyackers, R. ; Badenes, G. ; Gaubas, E.
出版情報: High Purity Silicon VI : proceedings of the sixth International Symposium.  pp.403-413,  2000.  Bellingham, Wash..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2000-17
6.

国際会議録
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6. What Can Low-frequency Noise Learn us About the Quality of Thin-gate Dielectrics?
Simoen, E. ; Mercha, A. ; Claeys, C.
出版情報: Silicon nitride and silicon dioxide thin insulating films VII : proceedings of the international symposium.  pp.153-172,  2003.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2003-2
7.

国際会議録
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7. The temperature mobility degradation influence on the ZTC of PD and FD SOI MOSFETs
Camillo, L.M. ; Martino, J.A. ; Simoen, E. ; Claeys, C.
出版情報: Silicon-on-insulator technology and devices XII : proceedings of the international symposium.  pp.119-124,  2005.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2005-03
8.

国際会議録
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8. 19 1/fNoise Performance of n-MOSFETs with Hf-Based Gate Dielectrics
Srinivasan, P. ; Simoen, E. ; Pantisano, L. ; Claeys, C. ; Misra, D.
出版情報: Advanced gate stack, source/drain and channel engineering for Si-based CMOS, new materials, processes, and equipment : proceedings of the international symposium.  pp.151-160,  2005.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2005-05
9.

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9. Impact of STI Width and Spacing on the Stress Generation in Deep Submicron CMOS
Poyai, A. ; Rittaporn, I. ; Simoen, E. ; Claeys, C. ; Rooyackers, R.
出版情報: High purity silicon VIII : proceedings of the international symposium.  pp.307-316,  2004.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2004-05
10.

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10. Effective Lifetime of Minority Carriers in Silicon: the Role of Heat- and Hydrogen Plasma Treatments
Ulyashin, A. ; Simoen, E. ; Camel, L. ; De Wolf, S. ; Dekkers, H. ; Rafi, J.M. ; Beaucarne, G. ; Poortmans, J. ; Claeys, C.
出版情報: High purity silicon VIII : proceedings of the international symposium.  pp.334-345,  2004.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2004-05