1.

国際会議録
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1. Debris-free soft x-ray source with gas-puff target
Ni,Q. ; Chen,B. ; Gong,Y. ; Cao,J. ; Lin,J. ; Lee,H.
出版情報: Advances in laboratory-based X-ray sources and optics II : 30 July-1 August 2001, San Diego, USA.  pp.96-99,  2001.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4502
2.

国際会議録
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2. Design concepts of EUV telescopes and the detectors boarded on the Solar Space Telescope
Song,Q. ; Ye,B. ; Cao,J. ; Chen,B. ; Cao,W.
出版情報: UV/EUV and visible space instrumentation for astronomy and solar physics : 1-2 August 2001, San Diego, USA.  pp.335-342,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4498
3.

国際会議録
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3. Molecular analysis of biomarkers for earlier cancer detection
Xu,X.-H.N. ; Cao,J. ; Jeffers,R. ; Logan,B. ; Wen,Z.J.
出版情報: Scanning and force microscopies for biomedical applications : 23-24 January 2000, San Jose, California.  pp.15-26,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3922
4.

国際会議録
国際会議録
4. Computer vision system for an autonomous mobile robot
Liao,X. ; Cao,J. ; Cao,M. ; Samu,T. ; Hall,E.L.
出版情報: Intelligent robots and computer vision XIX : algorithms, techniques, and active vision : 7-8 November 2000, Boston, USA.  pp.161-170,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4197
5.

国際会議録
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5. "Design, fabrication, and characterization of broadhand multilayer mirrors for EUV optics at normal incidence"
Wang,Z. ; Kun,C. ; Ma,Y. ; Chen,B. ; Cao,J. ; Zhou,Z. ; Chen,X. ; Michette,A.G.
出版情報: Soft X-ray and EUV imaging systems : 3-4 August 2000, San Diego, USA.  pp.83-90,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4146
6.

国際会議録
国際会議録
6. Process technology for supersmooth surface machining
Gao,H. ; Cao,J. ; Wu,M. ; Zhu,Y. ; Chen,C.
出版情報: Advanced optical manufacturing and testing technology : 1-3 November 2000, Chengdu, China.  pp.208-213,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4231
7.

国際会議録
国際会議録
7. Demonstration of numerically simulating figures for underwater explosions
Cao,J. ; Liang,L.
出版情報: 24th International Congress on High-Speed Photography and Photonics : 24-29 September 2000, Sendai, Japan.  pp.724-730,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4183
8.

国際会議録
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8. 18- to 20-nm broadband multilayer at normal incidence
Ke,C. ; Wang,Z. ; Ma,Y. ; Cao,J. ; Chen,X.
出版情報: X-ray optics, instruments, and missions III : 27-29 March 2000, Munich, Germany.  pp.354-358,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4012
9.

国際会議録
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9. Dispersion compensation of 10-Gb/s WDM system using chirped fiber grating
Cao,J. ; Sun,C. ; Li,C. ; Wang,H. ; Xie,S. ; An,G. ; Ge,H. ; Zhou,K. ; Liu,H. ; Han,Q.
出版情報: Optical interconnects for telecommunication and data communications, 8-10 November 2000, Beijing, China.  pp.35-38,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4225
10.

国際会議録
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10. Wide-range and high-resolution displacement measurement with grating
Lu,H. ; Cao,J. ; Chen,J.
出版情報: Process Control and Inspection for Industry.  pp.323-326,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4222