1.
国際会議録
Park, J.E. ; Schroder, D.K. ; Tan, SE. ; Choi, B.D. ; Fletcher, M. ; Buczkowski, A. ; Kirscht, F.
出版情報:
High Purity Silicon VI : proceedings of the sixth International Symposium . pp.383-395, 2000. Bellingham, Wash.. Electrochemical Society
シリーズ名:
Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号:
2000-17
2.
国際会議録
Kirscht, F. ; Orschel, B. ; Kim, S. ; Rouvimov, S. ; Snegirev, B. ; Fletcher, M. ; Shabani, M. ; Buczkowski, A.
出版情報:
Defect and impurity engineered semiconductors and devices III : symposium held April 1-5, 2002, San Francisco, California, U.S.A. . pp.173-178, 2002. Warrendale, Pa. Materials Research Society
シリーズ名:
Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号:
719
3.
国際会議録
Buczkowski, A. ; Orsehel, B. ; Kim, S. ; Rouvimov, S. ; Snegirev, B. ; Fletcher, M. ; Kirscht, F.
出版情報:
High purity silicon VII : proceedings of the international symposium . pp.299-310, 2002. Pennington, N.J.. Electrochemical Society
シリーズ名:
Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号:
2002-20
4.
国際会議録
Liao, C. I. ; Buczkowski, A. ; Chien, C. C. ; Huang, K. T. ; Li, Z ; Walker, T ; Hummel, S. G ; Tzou, S. F
出版情報:
Photon Processing in Microelectronics and Photonics V . pp.61061H-, 2006. Bellingham, Wash.. SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名:
Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号:
6106