1.

国際会議録

国際会議録
Buczkowski, A. ; Kirscht, F.G. ; Koya, H.
出版情報: Proceedings of the Symposium on Crystalline Defects and Contamination, their Impact and Control in Device Manufacturing II.  pp.376-384,  1997.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 97-22
2.

国際会議録

国際会議録
Buczkowski, A. ; Rozgonyi, G. A. ; Shimura, F.
出版情報: Photo-induced space charge effects in semiconductors: electro-optics, photoconductivity, and the photorefractive effect : symposium held April 29-May 1, 1992, San Francisco, California, U.S.A..  pp.235-240,  1992.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 261
3.

国際会議録

国際会議録
Buczkowski, A. ; Shimura, F. ; Rozgonyi, G.A.
出版情報: Proceedings of the Third International Symposium on Cleaning Technology in Semiconductor Device Manufacturing.  pp.495-504,  1994.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1994-7
4.

国際会議録

国際会議録
Liu, H. X. ; Schneider, T. P. ; Montgomery, J. ; Chen, Y. L. ; Buczkowski, A. ; Shimura, F. ; Nemanich, R. J. ; Maher, D. M. ; Korzec, D. ; Engemann, J.
出版情報: Surface chemical cleaning and passivation for semiconductor processing.  pp.231-,  1993.  Pittsburgh, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 315
5.

国際会議録

国際会議録
Daio, H. ; Buczkowski, A. ; Shimura, F.
出版情報: Proceedings of the Symposium on the Degradation of Electronic Devices due to Device Operation as well as Crystalline and Process-Induced Defects.  pp.265-274,  1994.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1994-1
6.

国際会議録

国際会議録
Braga, N. ; Buczkowski, A. ; Rozgonyi, G.A.
出版情報: Proceedings of the Symposium on the Degradation of Electronic Devices due to Device Operation as well as Crystalline and Process-Induced Defects.  pp.157-166,  1994.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1994-1
7.

国際会議録

国際会議録
Buczkowski, A. ; Rozgonyi, G.A. ; Shimura, F.
出版情報: Proceedings of the Symposium on Contamination Control and Defect Reduction in Semiconductor Manufacturing II.  pp.1-14,  1994.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1994-3