1.

国際会議録

国際会議録
Benton, J. ; Boone, T. ; Jacobson, D. ; Silverman, P. ; Rafferty, C. ; Weinzierl, S. ; Vu, B.
出版情報: High Purity Silicon VI : proceedings of the sixth International Symposium.  pp.278-286,  2000.  Bellingham, Wash..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2000-17
2.

国際会議録

国際会議録
Benton, J. L. ; Boone, T. ; Jacobson, D.C. ; Lin, Wen ; Wilk, G.D. ; Krautter, H. W. ; Rosamilia, J.M. ; Rafferty, C.S.
出版情報: Crystalline defects and contamination: their impact and control in device manufacturing III : DECON 2001 : proceedings of the Satellite Symposium to ESSDERC 2001, Nuremberg, Germany.  pp.181-191,  2001.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2001-29
3.

国際会議録

国際会議録
Vanysek, P. ; Boone, T. ; Dang, T. ; Geiger, H. ; Zhao, M. ; Klapperich, C. ; Lee, H. ; Nicewarner, D. ; Kurnik, R. ; Singh, S. ; Xiao, V.
出版情報: Chemical and biological sensors and analytical methods II : proceedings of the international symposium.  pp.376-383,  2001.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2001-18
4.

国際会議録

国際会議録
Kumik, R. ; Boone, T. ; Gibbons, I. ; Wei, J. ; Williams, S.
出版情報: Chemical and biological sensors and analytical methods II : proceedings of the international symposium.  pp.384-387,  2001.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2001-18