1.

国際会議録
国際会議録
1. Simple Method for Mapping Optical Defects in Insulating Silicon Carbide Wafers
Mier, M. ; Boeckl, J. ; Roth, M. ; Balkas, C. ; Nelson, M.
出版情報: Silicon carbide and related materials 2002 : ECSCRM2002, proceedings of the 4th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials, September 2-5, 2002, Linköping, Sweden.  pp.357-360,  2003.  Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 433-436
2.

国際会議録
国際会議録
2. High-power diode array reliability experiment
Gallant, D.J. ; Boeckl, J.
出版情報: High-Power Diode Laser Technology and Applications.  pp.136-141,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4973