1.

国際会議録
国際会議録
1. IDENTIFICATION OF INTERSTITIAL CARBON RELATED DEFECTS IN SILICON
Benton, J. L. ; Asom, M. T. ; Sauer, R. ; Kimerling, L. C.
出版情報: Defects in electronic materials : symposium held November 30-December 3, 1987, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.85-92,  1988.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 104
2.

国際会議録
国際会議録
2. METASTABLE DEFECT CONFIGURATIONS IN SEMICONDUCTORS,
Benton, J. L. ; Levinson, M.
出版情報: Defects in semiconductors II : symposium held November 1982 in Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.95-100,  1983.  New York.  North-Holland
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 14