Characterization of an Electron Emitting Tip by Field Emission Microscope and Scanning Probe Microscope — 電界放射顕微鏡および走査プローブ顕微鏡による電子源の評価 | 東京工業大学附属図書館文献データベース

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電界放射顕微鏡および走査プローブ顕微鏡による電子源の評価
Characterization of an Electron Emitting Tip by Field Emission Microscope and Scanning Probe Microscope

著者名:

Norimichi WATANABE

さらに 1 件

掲載資料名:

真空 : journal of the Vacuum Society of Japan

発行年:

2015

巻:

58

号:

4

開始ページ:

131

終了ページ:

133

総ページ数:

3

出版情報:

東京: 真空協会

ISSN:

18822398

言語:

日本語

資料種別:

学術雑誌

詳細

TDL書誌ID:	ZA00066506
論文注記:	小特集:第55回真空に関する連合講演会論文集 (1). 速報

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