A Study of High Temperature DC and AC Gate Stressing on the Performance and Reliability of Power SiC MOSFETs

著者名:

• R. Green
• A.J. Lelis
• M. El
• D.B. Habersat

掲載資料名:

Silicon carbide and related materials 2012 : selected, peer reviewed papers from the 9th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials (ECSCRM 2012), September 2-6,2012, St. Petersburg, Russian Federation

シリーズ名:

Materials science forum

シリーズ巻号:

740-742

発行年:

2013

開始ページ:

549

終了ページ:

552

総ページ数:

4

出版情報:

Aedermannsdorf, Switzerland: Trans Tech Publications

ISSN:

02555476

言語:

英語

請求記号:

M23650

資料種別:

国際会議録