Electrically Detected Magnetic Resonance (EDMR) Studies of SiC-SiO₂ Interfaces

著者名:

• T. Umeda
• R. Kosugi
• K. Fukuda
• N. Morishita
• T. Ohshima

掲載資料名:

Silicon carbide and related materials 2011 : selected, peer reviewed papers from the 14th International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2011 (ICSCRM 2011), September 11-16, 2011, Cleveland, Ohio, USA

シリーズ名:

Materials science forum

シリーズ巻号:

717-720

発行年:

2012

パート:

1

開始ページ:

427

終了ページ:

432

総ページ数:

6

出版情報:

Aedermannsdorf, Switzerland: Trans Tech Publications

ISSN:

02555476

言語:

英語

請求記号:

M23650

資料種別:

国際会議録