Blank Cover Image

Characterization of ultra thin SOI and SSOI substrates: defect and strain analysis Invited

著者名:
Bedell, S.W.
Hovel, H.
Domenicucci, A.
Fogel, K.
Reznicek, A.
Sadana, D.K.
さらに 1 件
掲載資料名:
Silicon-on-insulator technology and devices XII : proceedings of the international symposium
シリーズ名:
Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号:
2005-03
発行年:
2005
開始ページ:
345
終了ページ:
356
総ページ数:
12
出版情報:
Pennington, N.J.: Electrochemical Society
ISSN:
01616374
ISBN:
9781566774611 [1566774616]
言語:
英語
請求記号:
E23400/200503
資料種別:
国際会議録

類似資料:

Sadana, D. K., Bedell, S. W., Reznicek, A., de Souza, J.P., Fogel, K., Hovel, H.

Electrochemical Society

D. Sadana, M. Yang, S.W. Bedell, A. Reznicek, J.P. de Souza

Electrochemical Society

Bedell, S.W., Chen, H., Sadana, D.K., Fogel, K., Domenicucci, A.

Materials Research Society

Chen, H., Bedell, S. W., Murphy, R. J., Mocuta, D. M., Turansky, A. R, Domenicucci, A. G., Sadana, D. K. (IBM)

Electrochemical Society

Reznicek, A., Bedell, S. W., Hovel, H. J., Fogel, K. E., Ott, J. A., Mitchell, R. M., Sadana, D. K. (IBM)

Electrochemical Society

K. L. Saenger, J. P. de Souza, K. E. Fogel, J. A. Ott, A. Reznicek, C. Y. Sung, H. Yin, D. K. Sadana

Materials Research Society

S.W. Bedell, K. Fogel, A. Reznicek, J. Ott, D. Sadana

Electrochemical Society

T. V. Chandrasekhar Rao, S. Cristoloveanu, J. Antoszewski, T. Nguyen, H. Hovel, P. Genlil, L. Faraone

Electrochemical Society

Hovel, H.J., Ahnonte, M., Lee, J.D, Sadana, D., Domenicucci, A., Bettinger, J.

Electrochemical Society

Sadana, D.K.

Electrochemical Society

D. Sadana, S. Koester, Y. Sun, E. W. Kiewra, S. W. Bedell, A. Reznicek, J. Ott, K. Fogel, D. J. Webb, J. Fompeyrine, J. …

Electrochemical Society

B. Yang, J. De Souza, K. Saenger, S. Bedell, A. Reznicek

Electrochemical Society

1
 
2
 
3
 
4
 
5
 
6
 
7
 
8
 
9
 
10
 
11
 
12