Eye gazing direction inspection based on image processing technique (Invited Paper)

著者名:

• Hao, Q. ( Beijing Institute of Technology (China) )
• Song, Y. ( Beijing Institute of Technology (China) )

掲載資料名:

Optical design and testing II : 8-12 November 2004, Beijing, China

シリーズ名:

Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering

シリーズ巻号:

5638

発行年:

2004

開始ページ:

124

終了ページ:

132

総ページ数:

9

出版情報:

Bellingham, Wash.: SPIE - The International Society of Optical Engineering

ISSN:

0277786X

ISBN:

9780819455932 [0819455938]

言語:

英語

請求記号:

P63600/5638-1

資料種別:

国際会議録