Effects of Structural Defects on Diode Properties in 4H-SiC
- 著者名:
Skromme, B.J. Palle, K.C. Mikhov, M.K. Meidia, H. Mahajan, S. Huang, X.R. Vetter, W.M. Dudley, M. Moore, K. Smith, S. Gehoski, T. - 掲載資料名:
- Silicon carbide 2002 -- materials, processing and devices : symposium held December 2-4, 2002, Boston, Massachusetts, U.S.A.
- シリーズ名:
- Materials Research Society symposium proceedings
- シリーズ巻号:
- 742
- 発行年:
- 2003
- 開始ページ:
- 181
- 終了ページ:
- 186
- 総ページ数:
- 6
- 出版情報:
- Warrendale, Pa.: Materials Research Society
- ISSN:
- 02729172
- ISBN:
- 9781558996793 [1558996796]
- 言語:
- 英語
- 請求記号:
- M23500/742
- 資料種別:
- 国際会議録
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