Metric to evaluate the texture visibility of halftone patterns

著者名:

• Wang,M. ( Univ. of Rochester )
• Parker,K.J.

掲載資料名:

Human Vision and Electronic Imaging VI

シリーズ名:

Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering

シリーズ巻号:

4299

発行年:

2001

開始ページ:

163

終了ページ:

174

総ページ数:

12

出版情報:

Bellingham, Wash.: SPIE-The International Society for Optical Engineering

ISSN:

0277786X

ISBN:

9780819439772 [0819439770]

言語:

英語

請求記号:

P63600/4299

資料種別:

国際会議録