Srivastava, L. M.
Springer-Verlag
|
Tumer N., hemenway C., O'Connell K., Cuozzo M., Fang -X. R., Kaniewski W., Chua -H. N.
Plenum Press
|
Hajek, K., Jacobsen, H.-J., Hess, D.
Springer-Verlag
|
Hobbs A. L. S., DeLong O. M. C., Denes S., Iyer N. V.
Springer-Verlag
|
Telgen van, H. J., Mennes, A. M., Nakamura, C., van der Linde, P. C. G., van der Zaal, E. J., Quint, A., Libbenga, K. R.
Springer-Verlag
|
Gilmartin M P, Memelink J, Chua N-H
Springer-Verlag
|
Larsen, G. L., Davison, K. L., Bakke, J. E., Bass, N. M.
American Chemical Society
|
Moshkov, I.E., Novikova, G.V., Mur, L.A.J., Smith, A.R., Hall, M.A.
IOS Press
|
Butler M J, Beevers L
Springer-Verlag
|
Hsueh, M., Plaza, A., Wang, J., Wang, S., Liu, W., Ren, H., Chang, C., Jensen, J. L., Jensen, J. O., Odom, M. A., …
SPIE - The International Society of Optical Engineering
|
Jorgensen J. William, Duffy M. Erin, Essex W. Jonathan, Severance L. Daniel, Blake F. James, Jones-Hertzog K. Deborah, …
Kluwer Academic Publishers
|
Crolla, Lawrence J., Bermes, Edward W., Jr.
American Chemical Society
|