The Influence of Silicon Diffusion on the Transport Properties of the 2DEG in Si ｦﾄ-Doped GaAs

著者名:

• Koenraad,P.M.
• Barsony,I.
• Stadt,A.F.W.van der
• Perenboom,J.A.A.J.
• Wolter,J.H.

掲載資料名:

Proceedings of the 17th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-17, Gmunden, Austria, July 18-23, 1993

シリーズ名:

Materials science forum

シリーズ巻号:

143-147

発行年:

1994

巻:

Pt.1

開始ページ:

663

終了ページ:

668

出版情報:

Zurich, Switzerland: Trans Tech Publications

ISSN:

02555476

ISBN:

9780878496716 [0878496718]

言語:

英語

請求記号:

M23650

資料種別:

国際会議録