Laser and thermal annealing of Co-implanted Si studied by Mossbauer spectroscopy
- 著者名:
Langouche, G. ( Instituut voor Kern- en Stralingsfysika, Leuven University ) Potter, M. de ( Instituut voor Kern- en Stralingsfysika, Leuven University ) Van Rossum, M. ( Instituut voor Kern- en Stralingsfysika, Leuven University ) De Bruyn, J. ( Instituut voor Kern- en Stralingsfysika, Leuven University ) Dezsi, I. ( Instituut voor Kern- en Stralingsfysika, Leuven University ) Coussement, R. ( Instituut voor Kern- en Stralingsfysika, Leuven University ) - 掲載資料名:
- Nuclear and electron resonance spectroscopies applied to materials science : proceedings of the Materials Research Society Annual Meeting, November 1980, Copley Plaza Hotel, Boston, Massachusetts, U.S.A.
- シリーズ名:
- Materials Research Society symposia proceedings
- シリーズ巻号:
- 3
- 発行年:
- 1981
- 開始ページ:
- 353
- 終了ページ:
- 356
- 出版情報:
- New York, N.Y.: North Holland
- ISSN:
- 02729172
- ISBN:
- 9780444005977 [0444005978]
- 言語:
- 英語
- 請求記号:
- M23500/3
- 資料種別:
- 国際会議録
類似資料:
North Holland |
Trans Tech Publications |
North-Holland |
8
国際会議録
MULTI-STEP RAPID THERMAL ANNEALING TO IMPROVE THE STRUCTURAL AND ELECTRICAL PROPERTIES OF GaAs ON Si
Materials Research Society |
3
国際会議録
Mossbauer Study of the Electronic and Vibrational Properties of Implanted Te in GaAs and AlxGal-XAS
Trans Tech Publications |
Trans Tech Publications |
Martinus Nijhoff Publishers |
Trans Tech Publications |
Materials Research Society |
MRS - Materials Research Society |
MRS - Materials Research Society |
MRS - Materials Research Society |