1.
Conference Proceedings |
Houck, J. R. ; Roeliig, T. L. ; Van Cleve, J. ; Forrest, W. J. ; Herter, T. L. ; Lawrence, C. R. ; Matthews, K. ; Reitsema, H. J. ; Soifer, B. T. ; Watson, D. M. ; Weedman, D. ; Huisjen, M. ; Troelfzsch, J. R. ; Barry, D. J. ; Bernard-Salas, J. ; Blacken, C. ; Brandl, B. R. ; Charmandaris, V. ; Devost, D. ; Gull, G. E. ; Hall, P. ; Henderson, C. P. ; Higdon, S. J. U. ; Pirger, B. E. ; Schoenwald, J. ; Sloan, G. C. ; Uchida, K. I. ; Appleton, P. N. ; Armus, L. ; Burgdorf, M. J. ; Fojardo-Acosta, S. B. ; Grillmair, C. J. ; Ingalls, J. G. ; Morris, P. W. ; Teplitz, H, I.
|
|||||||
2.
Conference Proceedings |
Wilson, J. C. ; Henderson, C. P. ; Herter, T. L. ; Matthews, K. ; Skrutskie, M. F. ; Adams, J. D. ; Moon, D.-S. ; Smith, R. ; Gautier, N. ; Ressler, M. ; Soifer, B. T. ; Lin, S. ; Howard, J. ; LaMarr, J. ; Stolberg, T. ; Zink, J.
|
|||||||
3.
Technical Paper |
Eisenhardt, Peter R. ; Armus, Lee ; Hogg, David W. ; Soifer, B. T. ; Neugebauer, G. ; Werner, Michael W.
|
|||||||
4.
Technical Paper |
Hogg, David W. ; Neugebauer, G. ; Armus, Lee ; Matthews, K. ; Pahre, Michael A. ; Soifer, B. T. ; Weinberger, A. J.
|