Dixon S. M., Zhang S., Yamamoto T. R., Lamb J. C., Lawton A. M.
Springer-Verlag
|
Taylor S. S., Yonemoto W., Dostmann G. R. W., Knighton L. D., Sowadski M. J., Herberg W. F., Buechler A. J., Ji-Buechler …
Springer-Verlag
|
Luo,Y., Chang,C.K., Kessel,D.
SPIE-The International Society for Optical Engineering
|
Ovtsyna O. A., Veldhuis A., Lopez-Lara M. I., Wijfjes M. H. A., Quinto C., Geurts R., Bisseling T., Scott B. D., …
Springer
|
Evan Day, Matthew J. Lazzara
American Institute of Chemical Engineers
|
Stegert,M.R., Bichsel,S.J., Hemmings,B.A.
IOS Press
|
Hosey M. M., Brawley M. R., Chang F. C., Gutierrez M. L., Mundina-Weilenmann C., Ma J., Rios E.
Springer-Verlag
|
L. Fernández, P. Torres, J. Causado, R. Betancur
Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
|
STRASSER H. R., BENOVIC L. J., CARON G. M., LEFKOWITZ J. R.
Springer-Verlag
|
Bialek, U., Bauer, B. E., Miaczynska, M., Lorenzetti, S., Schweyen, R. J., Ragnini, A.
Springer-Verlag
|
Cohen,J., Klingmuller,U., Tonks,N.K., Neumann,D.
IOS Press
|
Small,W.IV, Heredia,N.J., Celliers,P.M., Silva,L.B.Da, Eder,D.C., Glinsky,M.E., London,R.A., Maitland,D.J., …
SPIE-The International Society for Optical Engineering
|