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Experimental and Theoretical Joint Study on the Electronic and Structural Properties of Silicon Nanocrystals Embedded in SiO2: active Role of the Interface Region

Author(s):
Daldosso, N.
Luppi, M.
Dalba, G.
Pavesi, L.
Rocca, F.
Priolo, F.
Franzo, G.
Iacona, F.
Degoli, E.
Magri, R.
Ossicini, S.
6 more
Publication title:
Optoelectronics of group-IV-based materials : symposium held April 21-24, 2003, San Francisco, California, U.S.A.
Title of ser.:
Materials Research Society symposium proceedings
Ser. no.:
770
Pub. Year:
2003
Page(from):
87
Page(to):
92
Pages:
6
Pub. info.:
Warrendale, Pa.: Materials Research Society
ISSN:
02729172
ISBN:
9781558997073 [1558997075]
Language:
English
Call no.:
M23500/770
Type:
Conference Proceedings

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