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High-precision surface analysis of the roughness of Michelangelo's David

Author(s):
Fontana, R. ( Istituto Nazionale di Ottica Applicata (Italy) )
Gambino, M.C. ( Istituto Nazionale di Ottica Applicata (Italy) )
Greco, M. ( Istituto Nazionale di Ottica Applicata (Italy) )
Marras, L. ( Istituto Nazionale di Ottica Applicata (Italy) )
Materazzi, M. ( Istituto Nazionale di Ottica Applicata (Italy) )
Pampaloni, E. ( Istituto Nazionale di Ottica Applicata (Italy) )
Pezzati, L. ( Istituto Nazionale di Ottica Applicata (Italy) )
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Publication title:
Optical Metrology for Arts and Multimedia
Title of ser.:
Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
Ser. no.:
5146
Pub. date:
2003
Page(from):
236
Page(to):
243
Pages:
8
Pub. info.:
Bellingham, Wash.: SPIE-The International Society for Optical Engineering
ISSN:
0277786X
ISBN:
9780819450166 [0819450162]
Language:
English
Call no.:
P63600/5146
Type:
Conference Proceedings

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