Cunha R. G., Bigsby M. R., Donjacour A. A., Cooke S. P.
Springer-Verlag
|
Soede M. D. R., Peters M. J. D., Jastorff B., Van Haastert M. J. P., Schaap P.
Plenum Press
|
Chalepakis G., Schauer M., Slater P. E., Beato M.
Kluwer Academic Publishers
|
Van Elshocht,S., Verbiest,T., Kauranen,M., Nolte,R.J.M., Meijer,E.W., Persoons,A.P.
SPIE-The International Society for Optical Engineering
|
Obregon J. M., De Ona R. C., Escobar del Rey F., Morreale de Escobar G.
Plenum Press
|
Prasad S. V. K., Peppler S. M., Kaplan G. J.
Plenum Press
|
Herrlich P., Ponta H., Stein B., Gebel S., Konig H., Schonthal A., Buscher M., Rahmsdorf J. H.
Kluwer Academic Publishers
|
Decre,M.M.J., Vromans,P.H.G.M., Toonder,J.M.j.den, Braun,A.L., Wierenga,H.A., Ubbens,I.P.D.
SPIE - The International Society for Optical Engineering
|
Bindels M. J. R., Timmermans H. A. J., Bakens M. J. J. R., Hartog A., van Leeuwen E., van Os. H. C.
Springer-Verlag
|
BIRNBAUMER L., BOCKAERT J., HUNZICKER-DUNN M., PLISKA V., GLATTFELDER A.
PLENUM PRESS
|
Arad JZ., Rice E. G., Skadhauge E.
Plenum Press
|
Zijp, F., Vullers, R.J.M., Kesteren, H.W., Mark, M.B., Heuvel, C.A., Someren, B., Verschuren, C.A.
SPIE-The International Society for Optical Engineering
|