Rakousky, S., Ondrej, M., Sehnal, F., Habustova, O., Hussein, H.M., Ovesna, J., Kucera, L., Kocourek, F., Riha, K., …
IOS Press
|
Wandelt Ch., Knibb W., Schroeder E. H., Khan I. R. M., Spencer D., Craig S., Higgins V. J. T.
Plenum Press
|
Waxman,A.B., Zhu,Z., Lee,C.G., Elias,J.A.
IOS Press
|
Fuchs, Roy L., MacIntosh, Susan C., Dean, Duff A., Greenplate, John T., Perlak, Frederick J., Pershing, Jay C., Marrone, …
American Chemical Society
|
Hooykaas J. J. P., Melchers S. L., Rodenburg W. C., van Veen M. J. R.
Springer-Verlag
|
Tumer N., hemenway C., O'Connell K., Cuozzo M., Fang -X. R., Kaniewski W., Chua -H. N.
Plenum Press
|
Jacobs,J.A., Dugan,E.T., Jacobs,A.M., Lockwood,G.J., Shope,S.L., Wehlburg,J.C.
SPIE-The International Society for Optical Engineering
|
Frankland, S. J. V., Caglar, A., Brenner, D. W., Griebel, M.
Materials Research Society
|
Hooykaas J. J. P., Hooykass-Van Slogteren, S. M. G., Hoekema A., van Haaren J. J. M., Melchers S. L., Roelvink W. P., …
Plenum Press
|
Bagni N., Altamura M. M., Biondi S., Mengoli M., Torrigiami P.
Plenum Press
|
Cherry R J, Hondred D, Keller M J, Hershey P H, Vierstra D R
Springer-Verlag
|
Horvath,G.V., Oberschall,A., Deak,M., Sass,L., Vass,I., Barna,B., kiraly,Z., Hideg,E., Feher,A., Dudits,D.
IOS Press
|