tenhunen D. J., Beyschlag W., Lange L. O., Harley C. P.
Springer-Verlag
|
Pereira S. J., Beyschlag G., Lange L. O., Beyschlag W., Tenhunen D. J.
Springer-Verlag
|
Harley C. P., Tenhunen D. J., Lange L. O., Beyschlag W.
Springer-Verlag
|
Davies J. W., Rhizopoulou S., Sanderson R., Taylor G., Metcalfe C. J., Zhang Jianhua
Kluwer Academic Publishers
|
Tenhunen D. J., Harley C. P., Beyschlag W., Lange L. O.
Springer-Verlag
|
Beyschlag W., Lange L. O., Tenhunen D. J.
Springer-Verlag
|
Lange L. O., Harley C. P., Beyschlag W., Tenhunen D. J.
Springer-Verlag
|
Davies J. W., Trejo L. C., Palmer J. S.
Springer-Verlag
|
Correia O., Catarino F., Tenhunen D. J., Lange L. O.
Springer-Verlag
|
Briggs R. W., Mandoli F. D., Shinkle R. J., Kaufman S. L., WatsonC. J., thompson F. W.
Plenum Press
|
Reynolds F. James, Acock Basil, Dougherty L. Robert, Tenhunen D. John
Kluwer Academic Publishers
|
Im, E., Durden, S. L., Kakar, R. K., Kummerow, C. D., Smith, E. A.
SPIE-The International Society for Optical Engineering
|