Menini A., Nunn J. B.
Plenum Press
|
Wirtz A. W. K., Visser G. W. J. A., Op den Kamp F. A. J., Roelofsen B., van Deenen M. L. L.
Plenum Press
|
CHABRE M., DETERRE P., CATTY P., VUONG M. T.
Springer-Verlag
|
Planat, V., Lanau, J-M., Record, M., Chap, H.
Springer-Verlag
|
Planta J R, Hoekstra R, Bergkamp-Steffens K G, Goncalves M P, Mager H W
Springer-Verlag
|
Ohta, J., Yoshida, N., Furumiya, T., Kagawa, K., Nunoshita, M.
SPIE-The International Society for Optical Engineering
|
Steitz A. T., Beese L., Engelman B., Fremont P., Friedman J., Sanderson M., Schultz S., Shields G., Warwicker J.
Plenum Press
|
Hescheler J., Kameyama M., Trautwein W., Mieskes G., Hofmann F.
Plenum Press
|
Peteanu A. L., Pollard T. W., Mathies A. R., Schoenlein W. R., Dexheimer L. S., Wang Q., Shank V. C.
Plenum Press
|
Thomas,R.J., Noojin,G.D., Stolarski,D.J., Hengst,G.T., Toth,C.A., Roach,W.P., Rockwell,B.A.
SPIE - The International Society for Optical Engineering
|
Nimmo G. H., Carter J. P., Fewson A. C., Mc Naughton L. A. G., Nimmo A. G., Wilkins B. M.
Springer-Verlag
|
Coruzzi M. G., Edwards W. J., Walker L. E., Tsai -Y. F., Brears T.
Plenum Press
|