Fischer H., Zeuner S., Schmid J., Hofmann J.
Kluwer
|
Caldwell, K., Noe, L. J., Ciccone, J. D., Traylor, T. G.
American Chemical Society
|
Geoffroy, G. L.
American Chemical Society
|
G.B. Han, J.H. Jun, N.K. Park, J.D. Lee, C.H. Park, S.O. Ryu, T.J. Lee
Elsevier
|
Geoffroy, G. L., Foley, H. C., Fox, J. R., Gladfelter, W. L.
American Chemical Society
|
BLAUWHOFF M. M. P., ASSINK B. J. G., VAN SWAAIJ M. P. W.
Martinus Nijhoff Publishers
|
Geoffroy L. G., Kelley C., Mercando A. L., Terry R. M., Lugan N., Yi C., Kaplan A.
Kluwer Academic Publishers
|
Rudier H., Parlier A., Denisa B., Yefsah S., Alvarez C., Daran C. J., Vassermann J., Knobler C.
Kluwer
|
Young, I.T., Iordanov, V., Kroon, A., Dietrich, H.R.C., Moerman, R., Doel, L.R., Dedem, G.W.K., Bossche, A., Gray, B.L., …
SPIE-The International Society for Optical Engineering
|
Wu, P. K., Kolaya, L. E., Duquette, D. J., Hudson, J. B.
MRS - Materials Research Society
|
Jackson, S. D., Hardy, H., Kelly, G. J., Shaw, L. A.
Elsevier
|
Lee, S.J., Luan, H.F., Bai, W.P., Lee, C.H., Clark, B., Rabents, D., Myers, L., Kwang, D.L.
Electrochemical Society
|