Wark, M., Schulz-Ekloff, G., Jaeger, N. I., Lutz, W.
Materials Research Society
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Prochnow, P., Schulz-Ekloff, G., Wark, M., Thomas, J.K., Zukal, A., Rathousky, J.
Elsevier
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Wark, M., Lutz, W., Loffler, E., Kessler, H., Schulz-Ekloff, G.
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Wark,M., Ganschow,M., Schulz-Ekloff,G., Wohrle,D.
SPIE-The International Society for Optical Engineering
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Klaas, J., Kulawik, K., Schulz-Ekloff, G., Jaeger, N. I.
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Schomburg, C., Wohrle, D., Schulz-Ekloff, G., Wark, M.
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Wark, M., Schulz-Ekloff, G., Jaeger, N. I., Zukal, A.
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Jaeger, N. I., Rathousky, J., Schulz-Ekloff, G., Svensson, A., Zukal, A.
Elsevier
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Ortlam, A., Wark, M., Schulz-Ekloff, G., Rathousky, J., Zukal, A.
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Hoppe, R., Schulz-Ekloff, G., Woehrle, D., Ehrl, M., Brauchle, C.
Elsevier
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Schulz-Ekloff, G.
Elsevier
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Jaeger, N. I., Schulz-Ekloff, G., Svensson, A.
Elsevier
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