Haanepen, M. J., Hooff, J. H. C. van
Elsevier
|
Hooff van C. H. J.
Sijthoff & Noordhoff International Publishers
|
Kraushaar-Czarnetzki, B., Hoogervorst, W.G.M,, Stork, W. H. J.
Elsevier
|
Ryu, S. Y., Byun, C. S., Kim, N. K., Park, D. H., Ahn, W. S., Ha, J. M., Park, K. J.
Elsevier
|
Chen, J. D., Haanepen, M. J., Hooff, J. H. C. van, Sheldon, R. A.
Elsevier
|
Nemeth, L., McCulloch, B., Jensen, R., Wilson, S., Moscoso, J., Corma, A., Rey, F., Valencia, S.
Elsevier
|
Kraushaar-Czarnetzki, B., Hoogervorst, W. G. M., Andrea, R. R., Emeis, C. A., Stork, W. H. J.
Elsevier
|
Wang, H., Liu, Z., Sun, C., Wang, G.
Elsevier
|
Sheldon, R. A., Chen, J. D., Dakka, J., Neeleman, E.
Elsevier
|
Doesburg, E. B. M., Hooff, J. H. C. van
Elsevier
|
|
Hooff van C. H. J.
Sijthoff & Noordhoff International Publishers
|