Wilson, S. T., McGuire, N. K., Blackwell, C. S., Bateman, C. A., Kirchner, R. M.
Elsevier
|
Wang, C., Li, J., Wang, Y., Wang, K., Yu, J., Xu, R.
Elsevier
|
Borges, C., Ribeiro, M.F., Henriques, C., Duarte, M.T., Lourenco, J.P., Gabelica, Z.
Elsevier
|
Bem, D. S., Bedard, R. L., Broach, R. W., Leon-Escamilla, E. A., Gisselquist, J. L., Pluth, J.
MRS - Materials Research Society
|
Bedard, R. L., Wilson, S. T., Vail, L. D., Bennett, J. M., Flanigen, E. M.
Elsevier
|
Morais, C.M., Fernandez, C., Montouillout, V., Taulelle, F., Rocha, J.
Elsevier Science B.V.
|
Bailey, W. J., Beam, C. F., Jr., Cappuccilli, E. D., Haddad, I., Volpe, A. A.
American Chemical Society
|
Ponder, S. M., Ford, J. R., Darab, J. G., Mallouk, T. E.
Materials Research Society
|
M. Dong, G. F. Wang, Z. F. Qin, J. G. Wang, T. Liu, Y. N. Xie, T. D. Hu
Elsevier
|
Chen, Z., Krishnamoorti, R., Kornfield, J., Satkowski, M., Smith, S.
American Institute of Chemical Engineers
|
Mironov,A.F., Lebedeva,V.S., Yakubovskaya,R.I., Kazachkina,N.I., Fomina,G.I.
SPIE - The International Society for Optical Engineering
|
Carlson, R.M.K., Dahl, J.E.P., Liu, S.G., Olmstead, M.M., Buerki, P.R., Gat, R.
Springer
|