Goyer C, Lee S H, Blanc A, Altmann M, Trachsel H, Sonenberg N
Springer-Verlag
|
Martinez-Izquierdo, J. A., Menossi, M., Stiefel, V., Garcia, N., Puigdomenech, P.
Springer-Verlag
|
WESTERHOFF V. H., KOSTER G. J., VAN WORKUM M., RUDD E. K.
Plenum Press
|
Tumer N., hemenway C., O'Connell K., Cuozzo M., Fang -X. R., Kaniewski W., Chua -H. N.
Plenum Press
|
von Hippel H. P., Berg G. O.
Plenum Press
|
Armelin,H.A., Barrera,J., Dougherty,E.R., Ferreira,J.E., Gubitoso,M.D., Hirata,N.S.T., Neves,E.J.
SPIE-The International Society for Optical Engineering
|
Okker H. J. R., Spaink H., Wijffelman C., van Brussel N. A. A., Lugtenberg B.
Springer-Verlag
|
Schmidt, R. L., Pysh, L. D., Ketudat, M., Parsons, R. L., Hoschek, G.
Springer-Verlag
|
Planta J. Rudi, mager H. Willem
Springer-Verlag
|
Grunberg-Manago M., Moine H., Springer M., Romby P., Ebel -P. J., Ehresmann C., Ehresmann B.
Plenum Press
|
Quail, P. H., Boylan, M. T., Dehesh, K., Nieto-Sotelo, J., Parks, B. M., Tepperman, J. M., Somers, D. E., Wagner, D.
Springer-Verlag
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Chambers, G., Carroll, C., Farrell, G.F., Dalton, A.B., Cadek, M., McNamara, M., Cummins, E., in het Panhuis, M., Byrne, …
SPIE-The International Society for Optical Engineering
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