Bud'ko L. S., Meng L. R., Chu W. C., Hor H. P.
Plenum Press
|
Vanbesien O., Bouregba R., Mounaix P. Lippens M.
Plenum Press
|
Buckle D. P., Cockburn W. J., Skolnick S. M., Whittaker M. D., Tagg E. I. W., Grey R., Hill G., Pate A. M.
Kluwer Academic Publishers
|
Li P. Y., Zaslavsky A., Tsui C. D., Santos M., Shayegan M.
Plenum Press
|
Birks, A. W., Ludlow, C. G.
North-Holland
|
Wang, W.-G., Liu, W.-C., Pan, H.-J., Cheng, C.-C., Feng, S.-C., Yen, C.-H., Shih, H.J.
Electrochemical Society
|
Roer de Van G. T., Heyker H., Kwaspen M., Vleuten der Van W., Hendriks M., Magnus W., Henini M., Caro J., Lukey P.
Kluwer Academic Publishers
|
Riechert H., Bernklau D., Reithmaier P. J., Schnell D. R.
Plenum Press
|
Schemmann, M.F.C., Heyker, H.C., Kwaspen, J.J.M., van de Roer, Th G.
National Aeronautics and Space Adminstration
|
Chang, P.C., Li, N.Y., Laroche, J.R., Baca, A.G., Hou, H.Q., Ren, F.
Electrochemical Society
|
Hooper,P.D., McHale,G., Newton,M.I.
SPIE-The International Society for Optical Engineering
|
Chao A. K., Kindlihagen A., Willander M., Galperin M. Yu.
Kluwer Academic Publishers
|