Kim, J. G., Menorval, L. Ch. De, Ryoo, R., Figueras, F.
Elsevier
|
Jong, S. -J., Wu, J. -F., Pradhan, A. R., Lin, H. -P., Mou, C. -Y., Liu, S. -B.
Elsevier
|
Chmelka, B. F., Rosin, R. R., Went, G. T., Bell, A. T., Radke, C. J., Petersen, E. E.
Elsevier
|
Menorval, L. C. de, Trescos, E., Rachdi, F., Fajula, F., Nunes, T., Feio, G.
Elsevier
|
Menorval, L. C. de, Rachdi, F.
Elsevier
|
Chen, J., Beck, L.W., Wang, L.M., Gu, B.X., Ewing, R.C.
Materials Research Society
|
Liu, S. B., Lee, C. S., Shiu, P. F., Fung, B. M.
Elsevier
|
Bull, L. M., Kumar, D., Millar, S. P., Besier, T., Janicke, M., Stucky, G. D., Chmelka, B. F.
Elsevier
|
Janicke, M., Chmelka, B. F., Larsen, R. G., Shore, J., Schmidt-Rohr, K., Emsley, L., Long, H., Pines, A.
Elsevier
|
Terskikh V. V., Mastikhin M. V., Okkel G. L., Fenelonov B. V., Zamaraev I. K., Hu H., Wachs E. L.
Kluwer
|
Rachdi, F., de Menorval, L.C.
Elsevier
|
Cho, S. J., Kang, S. K., Ryoo, R.
Elsevier
|