1.

国際会議録

国際会議録
Zhao, Y. ; Zhan, Q. ; Li, Y.-P.
出版情報: Holography, diffractive optics, and applications II : 8-11 November 2004, Beijing, China.  pp.56-65,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5636
2.

国際会議録

国際会議録
Fu, R. ; Chang, B. ; Qian, Y. ; Zhan, Q. ; Qiu, Y.
出版情報: Optical design and testing II : 8-12 November 2004, Beijing, China.  pp.621-630,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5638
3.

国際会議録

国際会議録
Chang, B. ; Fu, R. ; Zong, Z. ; Qian, Y. ; Zhan, Q. ; Gao, P. ; Du, X. ; Liu, L.
出版情報: Low-light-level and real-time imaging systems, components, and applications :9-11 July 2002, Seattle, Washington, USA.  pp.33-40,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4796
4.

国際会議録

国際会議録
Zhan, Q. ; Leger, J.R.
出版情報: Advanced characterization techniques for optical, semiconductor, and data storage components : 9-11 July 2002 Seattle, Washington, USA.  pp.83-89,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4779
5.

国際会議録

国際会議録
Zhan, Q.
出版情報: Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems.  pp.85-92,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5045
6.

国際会議録

国際会議録
Zhao, Y. ; Zhan, Q. ; Li, Y. -P.
出版情報: Laser Beam Shaping V.  pp.76-87,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5525
7.

国際会議録

国際会議録
Zhao, Y. ; Zhan, Q. ; Li, Y.-P.
出版情報: Optical Trapping and Optical Micromanipulation.  pp.616-625,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5514
8.

国際会議録

国際会議録
Hor, Y.L. ; Zhan, Q.
出版情報: Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems II.  pp.179-185,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5392
9.

国際会議録

国際会議録
Meyendorf, N. ; Sathish, S. ; Druffner, C.J. ; Blackshire, J.L. ; Hoffmann, J.P. ; Zhan, Q. ; Andrews, R.J.
出版情報: Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems II.  pp.256-265,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5392
10.

国際会議録

国際会議録
Zhan, Q.
出版情報: Optical Trapping and Optical Micromanipulation.  pp.275-282,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5514