1.

国際会議録
国際会議録
1. Simulation of Radiation Effects in MOSFETs
Ekbote,S. ; Tambe,D. ; Zaman,P. ; Dangat,H.K. ; Khare,M. ; Sinha,P. ; Rodd,S. ; Bukhanwala,N. ; Vasi,J. ; Sharma,D.K. ; Das,A.
出版情報: Semiconductor Devices.  pp.57-59,  1996.  Bellingham, WA, New Delhi.  SPIE-The International Society for Optical Engineering — Narosa
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2733
2.

国際会議録
国際会議録
2. RADCAP:A MOS Capacitor Simulator for Radiation Effects
Zaman,P. ; Patrikar,S.J. ; Goel,M. ; Bharadwaj,V. ; Das,A. ; Sharma,D.K. ; Vasi,J.
出版情報: Semiconductor Devices.  pp.533-537,  1996.  Bellingham, WA, New Delhi.  SPIE-The International Society for Optical Engineering — Narosa
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2733