1.

国際会議録
国際会議録
1. Modelling control processes using only positive values [5916-26]
Hernandez Z., A. ; Camacho N., O. ; Ya-ez Marquez, C. ; Diaz de Leon S., J.. L
出版情報: Mathematical Methods in Pattern and Image Analysis.  pp.59160O-,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5916
2.

国際会議録
国際会議録
2. Pattern recognition and classification using weightless neural networks (WNN) and Steinbuch Lernmatrix [5916-27]
Arguelles C., A. J. ; Diaz de Leon S.,, J. L. ; Ya-ez Marquez, C. ; Camacho N., O.Instituto Politecnico Nacional (Mexico)
出版情報: Mathematical Methods in Pattern and Image Analysis.  pp.59160P-,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5916