1.

国際会議録

国際会議録
Y. S. Bae ; D. Lee ; S. Moon ; Y. J. Won ; D. Y. Kim
出版情報: Three-dimensional and multidimensional microscopy : image acquisition and processing XIV : 23-25 January 2007, San Jose, California, USA.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6443
2.

国際会議録

国際会議録
Y. S. Bae ; S. Moon ; D. Y. Kim
出版情報: Three-dimensional and multidimensional microscopy : image acquisition and processing XV : 21 and 23-24 January 2008, San Jose, California, USA.  pp.686116-1-686116-8,  2008.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6861