1.

国際会議録

国際会議録
Wong, C.C. ; Saitoh, T. ; Xiong, Y.M.
出版情報: Proceedings of the Symposium on Nondestructive Wafer Characterization for Compound Semiconductor Materials and the twenty-second State-of-the-Art Program on Compound Semiconductors (SOTAPOCS XXII).  pp.91-103,  1995.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 95-6
2.

国際会議録

国際会議録
Kobayashi, K. ; Wong, C.C. ; Saitoh, T. ; Xiong, Y.M.
出版情報: Proceedings of the Symposium on Nondestructive Wafer Characterization for Compound Semiconductor Materials and the twenty-second State-of-the-Art Program on Compound Semiconductors (SOTAPOCS XXII).  pp.104-120,  1995.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 95-6