1.

国際会議録
国際会議録
1. GRAZINGEMISSION X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETRY: A NOVEL TOOL FOR SURFACE CONTAMINATION ANALYSIS AND THIN FILM METROLOGY
deBokx, P.K. ; Kidd, S.J. ; Wiener, G. ; Urbach, H.P. ; De Gendt, S. ; Mertens, P.W. ; Heyns, M.M.
出版情報: Silicon materials science and technology : proceedings of the Eighth International Symposium on Silicon Materials Science and Technology.  pp.1511-1523,  1998.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 98-1(2)
2.

国際会議録
国際会議録
2. Silicon Surface Metal Contamination Measurements Using Grazing-Emission XRF Spectrometry
Gendt, S. de ; Kenis, K. ; Baeyens, M. ; Mertens, P. W. ; Heyns, M. M. ; Wiener, G. ; Kidd, S. J. ; Knotter, D. M. ; Bokx, P. K. de
出版情報: Science and technology of semiconductor surface preparation : symposium held April 1-3, 1997, San Francisco, California, U.S.A..  pp.397-,  1997.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 477
3.

国際会議録
国際会議録
3. A New Technique for Depth Profiling on a Nanometer Scale
Schwenke, H. ; Knoth, J. ; Gunther, R. ; Wiener, G. ; Bormann, R.
出版情報: Surface/interface and stress effects in electronic material nanostructures : symposium held November 27-December 1, 1995, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.407-,  1996.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 405
4.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
4. Description and Verification of the NCAR Integrated Turbulence Forecasting Algorithm (ITFA)
Sharman, R. ; Wiener, G. ; Brown, B.
出版情報: AIAA paper.  pp.1-8,  2000.  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : Aerospace Sciences Meeting and Exhibit
シリーズ巻号: 2000