1.

国際会議録
国際会議録
1. THE PREPARATION OF InAsSb/InSb SLS AND InSb PHOTODIODES BY MOCVD
Biefeld, R.M. ; Cunningham, B.T. ; Kurtz, S.R. ; Wendt, J.R.
出版情報: Long-wavelength semiconductor devices, materials, and processes : symposium held November 26-29, 1990, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.175-180,  1991.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 216
2.

国際会議録
国際会議録
2. Pulse Testing of AlGaN/GaN HEMT
Baca, A. G. ; Kim, Y.M. ; Marsh, P.F. ; Armendariz, M.G. ; Sandoval, C.E. ; Allerman, A.A. ; Kurtz, S.R. ; Overberg, M.E. ; Wendt, J.R. ; Sanche, C.A.
出版情報: State-of-the-art program on compound semiconductors XLI and nitride and wide bandgap semiconductors for sensors, photonics, and electronics V : proceedings of the international symposia.  pp.435-440,  2004.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2004-06
3.

国際会議録
国際会議録
3. Integration and tolerance issues for resonant subwavelength gratings (Invited Paper)
Kemme, S.A. ; Peters, D.W. ; Wendt, J.R. ; Carter, T.R. ; Samora, S.
出版情報: Gradient index, miniature, and diffractive optical systems III : 6-7 August 2003, San Diego, California, USA.  pp.1-8,  2003.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5177
4.

国際会議録
国際会議録
4. High Performance GaN/AIGaN HEMTs (Invited)
Baca, A.G. ; Briggs, R.D. ; Johnson, J.W. ; Monier, C. ; Allerman, A.A. ; Mitchell, C.C. ; Wendt, J.R. ; Shul, R.J. ; Ren, F. ; Armendariz, M.G.
出版情報: State-of-the-art-program on compound semiconductors (STAPOCS XXXV) : proceedings of the international symposium.  pp.41-46,  2001.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2001-20
5.

国際会議録
国際会議録
5. Measurement of a laterally deformable optical MEMS grating transducer
Carr, D.W. ; Keeler, B.E.N. ; Sullivan, J.P. ; Friedmann, T.A. ; Wendt, J.R.
出版情報: MOEMS and Miniaturized Systems IV.  pp.56-63,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5346