1.

国際会議録
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1. A high-power broad-bandwidth 1310-nm superluminescent diode with low spectral modulation [6079-81]
Wei, J. ; Park, S. ; Hu, Y. ; Enck, R. ; Luciani, V. ; Konoplev, O. ; Wilson, S. ; Heim, P. J. S.
出版情報: Coherence domain optical methods and optical coherence tomography in biomedicine X : 23-25 January 2006, San Jose, California, USA.  pp.60791P-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6079
2.

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2. Peak inspecting and signal recovery methods based on triple correlation [6236-07]
Cao, H. ; Li, X. ; Chen, R. ; Wei, J. ; Cao, C.
出版情報: Signal and data processing of small targets 2006 : 18-20 April 2006, Kissimmee, Florida, USA.  pp.623608-623608,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6236
3.

国際会議録
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3. Dyadic Green's Function for Loaded Circular Microwave Cavity
目次はDivisionごとに分けて掲載されている。論文の順番はDivisionにかかわらず，Session順の通しページになっている。
出版情報: Back to the future : conference proceedings : ANTEC 1992, Detroit, May 3-7.  pp.1610-1612,  1992.  Brookfield Center, CT.  Society of Plastics Engineers, Inc. (SPE)
シリーズ名: Annual Technical Conference - ANTEC : Society of Plastics Engineers Annual Technical Papers
シリーズ巻号: 38
4.

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4. Atmospheric correction of SeaWiFS imagery for turbid waters in Southern China coastal areas
Chen, C. ; Wei, J. ; Shi, P.
出版情報: Ocean remote sensing and applications : 24-26 October 2002, Hangzhou, China.  pp.80-86,  2003.  Bellingham, Wash.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4892
5.

国際会議録
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5. Superluminescent diodes for optical coherence tomography
Shidlovski, V.R. ; Wei, J.
出版情報: Test and measurement applications of optoelectronic devices : 21-22 January 2002, San Jose, USA.  pp.139-147,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4648
6.

国際会議録
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6. ALTERNATIVE METHODS FOR RESIST STRIPPING
Wei, J. ; Verhaverbeke, S.
出版情報: Proceedings of the Fifth International Symposium on Cleaning Technology in Semiconductor Device Manufacturing.  pp.496-504,  1997.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 97-35
7.

国際会議録
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7. Lean NOx reduction over Snl-xZrxO2 solid solutions
Ma, J. ; Zhu, Y. ; Wei, J. ; Cai, X. ; Xie, Y.
出版情報: 12th International Congress on Catalysis : proceedings of the 12th ICC, Granada, Spain, July 9-14, 2000.  pp.617-,  2000.  Amsterdam.  Elsevier
シリーズ名: Studies in surface science and catalysis
シリーズ巻号: 130
8.

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8. Discrimination, tracking, and recognition of small and fast-moving objects
Wei, J. ; Gertner, I.
出版情報: Automatic target recognition XII : 2-4 April 2002, Orlando, USA.  pp.253-266,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4726
9.

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9. Real-Time Plasma Monitoring and Detection of Trace H2O and HF Species in an Ar-Based Plasma
Wei, J.
出版情報: Proceedings of the Second International Symposium on Process Control, Diagnostics, and Modeling in Semiconductor Manufacturing.  pp.192-198,  1997.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 97-9
10.

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10. Robust and self-adaptive background extraction in video object change detection
Wei, J. ; Ye, G. ; Pickering, M. ; Frater, M. ; Arnold, J.
出版情報: Applications of digital image processing XXVI : 5-8 August 2003, San Diego, California, USA.  pp.142-147,  2003.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5203