1.

国際会議録

国際会議録
Thizy, C. ; Stockman, Y. ; Doyle, D. ; Lemaire, P. ; Houbrechts, Y. ; Georges, M. ; Mazzoli, A. ; Mazy, E. ; Tychon, I. ; Ulbrich, G.
出版情報: Optical fabrication, testing and metrology II : 13-15 September 2005, Jena, Germany.  pp.59650W-,  2005.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5965
2.

国際会議録

国際会議録
Geroges, M.P. ; Thizy, C. ; Scauflaire, V. ; Ryhon, S. ; Pauliat, G. ; Lemaire, P. ; Rossen, G.
出版情報: Speckle metrology 2003 : 18-20 June 2003, Trondheim, Norway.  pp.250-255,  2003.  Bellingham, Wash.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4933
3.

国際会議録

国際会議録
Georges, M. ; Thizy, C. ; Tiberghien, J. ; Lemaire, P.
出版情報: Speckle06: Speckles, From Grains to Flowers.  pp.634139-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6341
4.

国際会議録

国際会議録
Thizy, C. ; Georges, M. ; Lemaire, P. ; Stockman, Y. ; Doyle, D.
出版情報: Speckle06: Speckles, From Grains to Flowers.  pp.63411O-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6341