1.

国際会議録

国際会議録
Gerchikov,L.G. ; Ipatov,A.N. ; Polozkov,R.G. ; Solovyov,A.V.
出版情報: Fourth International Workshop on Nondestructive Testing and Computer Simulations in Science and Engineering.  pp.103-111,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4348
2.

国際会議録

国際会議録
Ivanov,V.K. ; Kashenock,G.Yu. ; Polozkov,R.G. ; Solovyov,A.V.
出版情報: Fourth International Workshop on Nondestructive Testing and Computer Simulations in Science and Engineering.  pp.98-102,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4348
3.

国際会議録

国際会議録
Machekhin,Yu.P. ; Smulakovsky,V.M. ; Solovyov,A.V.
出版情報: Optoelectronic metrology : 28-30 September 1998, Ĺańcut, Poland.  pp.38-40,  1998.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4018
4.

国際会議録

国際会議録
Vasiltsov,V.V. ; Galushkin,M.G. ; Roshin,A.P. ; Solovyov,A.V.
出版情報: Progress in research and development of high-power industrial CO2 lasers : selected research papers on Progress in research and development of high-power industrial CO2 lasers 1991-2000.  pp.169-177,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4165
5.

国際会議録

国際会議録
Vishnevetskaya,I.A. ; Denisov,V.A. ; Solovyov,A.V.
出版情報: Fifth International Conference on Industrial Lasers and Laser Applications '95.  pp.301-305,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2713
6.

国際会議録

国際会議録
Voronov,S.A. ; Katkovskiy,O.B. ; Neduzhiy,S.A. ; Solovyov,A.V. ; Statnikov,Yu.G.
出版情報: International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics.  pp.668-673,  1995.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2648