1.
国際会議録 |
Kuijten, J. P. ; Verhappen, A. ; Conley, W. ; van de Goor, S. ; Litt, L. ; Wu, W. ; Lucas, K. ; Roman, B. ; Kasprowicz, B. ; Progler, C. ; Socha, R. ; van den Broeke, D. ; Wampler, K. ; Laidig, T. ; Hsu, S.
|
|||||||
2.
国際会議録 |
Chen, T. ; Van Den Broeke, D. ; Tejnil, E. ; Hsu, S. ; Park, S. ; Berger, G. ; Coskun, T. ; De Vocht, J. ; Corcoran, N. ; Chen, F. J. ; van der Heijden, E. ; Finders, J. ; Engelen, A. ; Socha, R.
|
|||||||
3.
国際会議録 |
Shieh, J. ; Socha, R. ; Shi, X. ; Chen, A.
|
|||||||
4.
国際会議録 |
4. Model-based scattering bars implementation for 65nm and 45nm nodes using IML technology [5853-50]
Hsu, M. ; Van Den Broeke, D. ; Laidig, T. ; Wampler, K. E. ; Hollerbach, U. ; Socha, R. ; Chen, J. F. ; Hsu, S. ; Shi, X.
|
|||||||
5.
国際会議録 |
Chen, T. ; Park, S. ; Berger, G. ; Coskun, T. H. ; de Vocht, J. ; Chen, F. ; Yu, L. ; Hsu, S. ; van den Broeke, D. ; Socha, R. ; Park, J. ; Gronlund, K. ; Davis, T. ; Plachecki, V. ; Harris, T. ; Hansen, S. ; Lambson, C.
|
|||||||
6.
国際会議録 |
Wiaux, V. ; Montgomery, P.K. ; Vandenberghe, G. ; Monnoyer, P. ; Ronse, K.G. ; Conley, W. ; Litt, L.C. ; Lucas, K. ; Finders, J. ; Socha, R. ; Broeke, D.J.V.D.
|
|||||||
7.
国際会議録 |
Chen, T. ; Van Den Broeke, D. ; Hsu, S. ; Park, S. ; Berger, G. ; Coskun, T. ; de Vocht, J. ; Chen, F. ; Socha, R. ; Park, J. ; Gronlund, K.
|
|||||||
8.
国際会議録 |
Van Den Broeke, D.J. ; Socha, R. ; Hsu, S.D. ; Chen, J.F. ; Laidig, T.L. ; Corcoran, N. ; Hollerbach, U. ; Wampler, K.E. ; Shi, X.
|
|||||||
9.
国際会議録 |
Park, J. ; Hsu, S. ; Van Den Broeke, D. ; Chen, J. F. ; Dusa, M. ; Socha, R. ; Finders, J. ; Vleeming, B. ; van Oosten, A. ; Nikolsky, P. ; Wiaux, V. ; Hendrickx, E. ; Bekaert, J. ; Vandenberghe, G.
|
|||||||
10.
国際会議録 |
Huckabay, J. ; Staud, W. ; Naber, R. ; Dusa, M. ; Flagello, D. ; Socha, R.
|