1.

国際会議録

国際会議録
Claeys,C. ; Simoen,E.
出版情報: Proceedings of the Electrochemical Society Symposium on Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials and Devices.  pp.324-341,  1997.  Pennington, NJ.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3322
2.

国際会議録

国際会議録
Simoen,E. ; Claeys,C. ; Neimash,V.B. ; Kraitchinskii,A. ; Kras'ko,M. ; Puzenko,O. ; Blondeel,A. ; Clauws,P.
出版情報: High Purity Silicon VI : proceedings of the sixth International Symposium.  pp.223-235,  2000.  Pennington, N.J., Bellingham, Wash..  Electrochemical Society — SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4218
3.

国際会議録

国際会議録
Poyai,A. ; Simoen,E. ; Claeys,C. ; Rooyackers,R. ; Badenes,G. ; Gaubas,E.
出版情報: High Purity Silicon VI : proceedings of the sixth International Symposium.  pp.403-413,  2000.  Pennington, N.J., Bellingham, Wash..  Electrochemical Society — SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4218
4.

国際会議録

国際会議録
Ohyama,H. ; Vanhellemont,J. ; Simoen,E. ; Claeys,C. ; Takami,Y. ; Hayama,K. ; Sunaga,H. ; Poortmans,J. ; Caymax,M.
出版情報: Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997.  Part1  pp.121-126,  1997.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 258-263
5.

国際会議録

国際会議録
Kudou,T. ; Ohyama,H. ; Vanhellemont,J. ; Simoen,E. ; Claeys,C. ; Takami,Y. ; Fujii,A. ; Sunaga,H.
出版情報: Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997.  Part2  pp.1217-1222,  1997.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 258-263