1.

国際会議録
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1. Estimating soil moisture distribution using polarimetric airborne SAR
Tadono,T. ; Qong,M. ; Wakabayashi,H. ; Shimada,M. ; Shi,J.
出版情報: Microwave remote sensing of the atmosphere and environment II : 9-12 October 2000, Sendai, Japan.  pp.319-326,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4152
2.

国際会議録
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2. Species-selective and sensitive films based on host-guest interactions
Yang,X. ; Shi,J. ; Du,X.X. ; Swanson,B.I.
出版情報: Electro-optic, integrated optic, and electronic technologies for online chemical process monitoring : 2-5 November 1998, Boston, Massachusetts.  pp.261-267,  1999.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3537
3.

国際会議録
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3. Interactive errors in conventional CRT colorimetric prediction models
Liao,N. ; Zeng,H. ; Shi,J. ; Yu,H. ; Bai,F. ; Yang,W. ; Wang,Y.
出版情報: Electronic imaging and multimedia systems II : 18-19 September, 1998, Beijing, China.  pp.306-310,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3561
4.

国際会議録
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4. Degradation mechanisms in organic light-emitting diodes
Langlois,E. ; Wang,D. ; Shen,J. ; Barrow,W.A. ; Green,P.J. ; Tang,C.W. ; Shi,J.
出版情報: Organic photonic materials and devices II : 24-26 January 2000, San Jose, USA.  pp.158-163,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3939
5.

国際会議録
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5. Validation of MODIS snow mapping algorithm using AVIRIS image and near-infrared color photo data (Invited Paper)
Shi,J. ; Li,Z.
出版情報: Hyperspectral remote sensing and application : 15-17 September 1998, Beijing, China.  pp.243-251,  1998.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3502
6.

国際会議録
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6. Study on pyrometer with optical fiber for overheating gas
Li,Z. ; Shi,J. ; Tang,J.
出版情報: Fiber optic sensors V : 6-7 November 1996, Beijing, China.  pp.559-564,  1996.  Bellingham, Wash. USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2895
7.

国際会議録
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7. High-power single quantum well array semiconductor lasers
Qu,Y. ; Bo,B. ; Gao,X. ; Zhan,B. ; Zhang,X. ; Shi,J.
出版情報: Fourth International Conference on Thin Film Physics and Applications : 8-11 May 2000, Shanghai, China : proceedings.  pp.132-134,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4086
8.

国際会議録
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8. Time-critical computing in virtual environment
Pan,Z. ; Zhang,M. ; Zheng,W. ; Shi,J.
出版情報: Computer-aided design and computer graphics : Fourth International Conference on Computer-Aided Design and Computer Graphics : 23-25 October, 1995, Wuhan, China.  pp.712-717,  1996.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2644
9.

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9. New method for generating handwritten Chinese character samples
Zhang,M. ; Pan,Z. ; Shi,J.
出版情報: Document recognition IV : 12-13 February, 1997, San Jose, California.  pp.2-9,  1997.  Bellingham, Washington.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3027
10.

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10. Optical fiber sensor system for oil contamination measurement based on 3D fluorescence spectrum parameterization
Shang,L. ; Shi,J.
出版情報: Optical measurement and nondestructive testing : Techniques and applications, 8-10 November 2000, Beijing, China.  pp.171-174,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4221