1.

国際会議録

国際会議録
Wittorf, D. ; Jager, W. ; Rucki, A. ; Urban, K. ; Hettwer, H.-G. ; Stolwijk, N. A. ; Mehrer, H.
出版情報: Defect and impurity engineered semiconductors and devices : symposium held April 17-21, 1995, San Francisco, California, U.S.A..  pp.183-,  1995.  Pittsburgh, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 378
2.

国際会議録

国際会議録
Daval, N. ; Guiot, E. ; Bourdelle, K. K. ; Kennard, M. ; Cayrefourcq, I. ; Akatsu, T. ; Mazure, C. ; Cerva, H. ; Rucki, A.
出版情報: Crystalline defects and contamination: their impact and control in device manufacturing IV : DECON 2005 : proceedings of the Satellite Symposium to ESSDERC 2005, Grenoble, France.  pp.42-51,  2005.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2005-10