1.

国際会議録

国際会議録
Denecke, R. ; Eckstein, R. ; Ley, L. ; Bocquet, A. ; Riley, J. ; Leckey, R.
出版情報: Atomic-scale imaging of surfaces and interfaces : symposium held November 30-December 2, 1992, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.219-224,  1993.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 295
2.

国際会議録

国際会議録
Douiri, A. ; Schweiger, M. ; Riley, J. ; Arridge, S. R.
出版情報: Photon migration and diffuse-light imaging II : 12-16 June 2005, Munich, Germany.  pp.585916-585916,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5859
3.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
Carlson, D. ; Czaplicki, M. ; Riley, J.
出版情報: 2003 SAE world congress : technical paper.  2003.  Warrendale, Penn..  Society of Automotive Engineers
シリーズ名: Society of Automotive Engineers technical paper series
シリーズ巻号: 2003